Im Rahmen eines multinationalen EGKS - Forschungsvorhabens werden Verfahren zur prozessnahen Messung der Bandverschmutzung in bzw. an Kaltwalz -,Reinigungs -, Glüh- und Galvanisierungslinien untersucht.
Schwerpunkt der Arbeiten des BFI ist die Untersuchung der Messbarkeit geringer Restverschmutzungen von Bändern mit Ölrückständen und Eisenabrieb mittels Ellipsometrie.

Das Messprinzip beruht darauf, daß polarisiertes Licht bei RefIexion an einer Oberfläche seinen Polarisationszustand (Orientierung und Elliptizität) ändert.
Aus diesen Polarisationsänderungen können die optischen Konstanten eines Materials berechnet und mit weiterführenden Modellen die Schichtdicke und der Brechungsindex einer Oberflächenschicht bestimmt werden.

Im Vergleich zu anderen Verfahren ist die Ellipsometrie sehr empfindlich. Schichtdicken von wenigen Atomlagen sind messbar.