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Arbeitsgebiete / Oberflächen- und Tribotechnik / Oberflächenstrukturmeßsysteme
Oberflächenstrukturmeßsysteme
  
Dr.-Ing. J. Kurzynski • Tel: 0211 / 6707 - 226 • E-Mail: jochen.kurzynski@bfi.de 
 



Rauheitsprofil

Topographie

Höhenabhängige Farbdarstellung

Pseudo-3D Bild einer Feinblechoberfläche
nach Tiefpaßfilterung


Rauheitsmeßsystem nach SEP 1940

  • Übertragung der Profildaten in den PC zur Berechnung nicht- genormter funktionsrelevanter Sonderkenngrößen (Meßlänge bis 50 mm)


Systeme zur Erfassung der Topographie

  • Luftgelagerter Koordinatentisch (150 x 150 mm, Positioniergenauigkeit < 1µm)
  •  Sensoren:
    > mechanisches Freitastsystem (Nadelradius 1 und 5 µm)
    > berührungsloses laseroptisches Freitastsystem
    Meßbereich (ohne z- Achsenmotor) <= 1 mm 
     Auflösung (vertikal) <= 0.03 µm
  • Auflösung (horizontal) 0.5 µm 
  • Auswertungen (beispielhaft):
    > Zwei- und dreidimensionale Rauheitskennwerte
    > Verknüpfen von Profilen
    > Hoch-, Tief- und Bandpaßfilterung 
    > Traganteile und Steigerungsverteilungen
    > Material bzw. Hohlraum über oder unter vorgegebenen Niveau
    > Powerspektrum und Kreuzleistungsspektrum
    > Dreidimensionale Darstellung:
    > Gitternetzlinien
    > Fehlfarbenbilder
    > Pseudo 3-D Bilder mit vitueller Beleuchtung