Der Einsatz von Oberflächeninspektionssystemen (OIS) zur Optimierung der Bandqualität bei der Flachstahlproduktion hat zunehmend an Bedeutung gewonnen. Um die OIS-Ergebnisse sinnvoll nutzen zu können ist aber eine Nachbearbeitung der Rohdaten sinnvoll, bei der die Defektdaten durch Kontextinformationen und Expertenwissen ergänzt werden. Eine Regelbasis kann nun durch Verifikation, Filterung und Aggregation die benötigten Qualitätsinformationen extrahieren. Die Anzahl der Daten kann so halbiert werden ohne deren Informationsgehalt zu verringern.
Häufig werden an einem Standort mehrere OI-Systeme von verschiedenen Lieferanten eingesetzt. Um hier eine Vergleichbarkeit der Ergebnisse zu erreichen, ist eine herstellerunabhängige Lösung für die Nachbearbeitung der Daten erforderlich. Das BFI hat eine Software entwickelt, die in der Lage ist, Daten von OIS-Datenbanken beliebiger Hersteller zu verarbeiten und die gewonnenen Qualitätsinformationen mittels einheitlicher Regelbasis in einer zentralen Datenbank abzulegen (DataProSIS). Hierdurch wird einerseits ein standardisierter Zugriff auf die Qualitätsdaten ermöglicht und andererseits die Datenmenge auf ein auswertbares Maß verringert.