Die in mehreren Untersuchungen des BFI erstellten Auswerteroutinen für Oberflächeninspektionsdaten wurden in dem Softwaretool DataSIS zusammengefasst. Es bietet die bandübergreifende Auswertung größerer OIS-Datenbestände (mehrere Tausend Bänder oder mehrere Millionen Defekte). Das Tool bietet die folgenden Leistungsmerkmale:

• Plausibilisierung der band- und defektbezogenen Daten
• Berücksichtigung von Bandsaum
• Einfache und flexible Selektion von Bänder z.B. nach Werkstoff, Dicke, Produktionszeitraum, etc.
• Unterschiedliche Methoden der Defektaggregation bezogen auf ganze Bänder oder Tafeln, z.B. Anzahl Fehler, Fehlersummenfläche, Fehlerlängensumme, befallene Bandlänge, Summe Grade
• Vielzahl an Auswertungen z.B. Lage der Defekte, Defektklassenverteilung, Defektschweregradverteilung, Qualitätsverlauf über Zeit, Materialabhängigkeit etc.

Eine bandübergreifende Nutzung der Daten ist notwendig für:

• die flexible Bewertung des Bandes oder Bandsegmenten (Coil- bzw. Segment-Grading)
• Einstellung des Schweregrades der Defekte
• die Plausibilisierung der Daten und Überwachung des OIS
• die Verfolgung der Band-Istqualität

In der betrieblichen Praxis möchte der Anwender der OIS-Technologie darüber hinaus z.B. folgende Fragenstellungen auf Basis der OIS-Daten klären:

• Wo liegen die Defekte auf dem Band (Anfang/Ende, Rand/Mitte, ben/unten)?
• Liegt eine Materialabhängigkeit bei bestimmten Fehlerklassen vor?
• Hängt der Fehlerbefall von der Dicke der Bänder ab?
• Gibt es Periodizitäten im Fehlerbefall?
• Wie war der Fehlerbefall in einer bestimmten Kalenderwoche verglichen mit dem ganzen Produktionsjahr?

Die mit DataSIS erzielten Ergebnisse werden in i.d.R. in Form von Plots dargestellt, wobei die gewählten Parametereinstellungen miteingebunden werden. Darüber hinaus können auch die Berechnungsergebnisse in die Datenbank zurückgeschrieben werden.

Datenblatt